С 22 по 25 октября 2013 года представители Всероссийского научно-исследовательского института авиационных материалов (ВИАМ) Ева Лукина и Галина Морозова приняли участие в работе II Всероссийской научной конференции «Методы исследования состава и структуры функциональных материалов» (МИССФМ-2013), посвященной 100-летию со дня открытия дифракции рентгеновских лучей.
22 октября Галина Морозова представила свой доклад на секции «Общие вопросы диагностики состава и структуры». Тема ее выступления «Наноструктурное упрочнение литейных магниевых сплавов системы Mg?Zn?Zr».
Темой доклада Евы Лукиной стало исследование строения наноразмерных объектов с измерением параметров кристаллической структуры интегральными и локальными дифракционными методами.
Доклад был представлен 24 октября на секции «Методы определения параметров кристаллической структуры».
Кроме того, сотрудники ВИАМ подготовили стендовый доклад на тему «Структурные характеристики углеродных волокон, определяемые дифракционными методами».
Напомним, что конференция прошла в Новосибирском научном центре. Ее основная задача - всестороннее обсуждение современного состояния физических и химических методов исследования применительно к широкому кругу функциональных материалов: проводников, полупроводников, сверхпроводников, магнитных и оптических материалов, полимеров и т.д. Особое внимание эксперты уделили методам изучения состава и структуры наноматериалов.
Темы основных докладов конференции, представляющих научно-практический интерес для сотрудников ВИАМ в связи с решением задач института (как текущих, так и соответствующих стратегическим направлениям развития), следующие:
- применение и развитие методов высокоразрешающей просвечивающей микроскопии;
- in-situ дифракционные эксперименты на пучках синхротронного излучения;
- рамановская спектроскопия внутри- и межмолекулярных взаимодействий в молекулярных кристаллах;
- методы малоуглового рассеяния для исследования наночастиц;
- количественные измерения состава продуктов синтеза новых функциональных материалов методом EXAFS;
- комплексная диагностика структуры материалов рентгенодифракционными методами на синхротронном излучении.
В работе конференции приняли участие специалисты в области рентгеноструктурного, рентгенофазового, химического анализа, спектральных, магниторезонансных методов, электронной и зондовой микроскопии и других методов исследования.