18 апреля 2013 года представители Всероссийского научно-исследовательского института авиационных материалов (ВИАМ) приняли участие в 19-й научно-технической конференции «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение». Она прошла во Всероссийском научно-исследовательском институте оптико-физических измерений при поддержке Росстандарта.
Конференция была посвящена теоретическим и экспериментальным исследованиям оптического излучения, новым материалам, средствам и методам измерений, а также перспективным технологиям.
На секции «Теоретические и экспериментальные исследования новых материалов, в том числе наноматериалов, с применением оптико-физических методов измерений» от ВИАМ с докладами выступили Е.Б. Чабина, Е.В. Филонова, Ф.Н. Карачевцев и Т.Н. Загвоздкина.
Их выступления были посвящены измерению геометрических параметров наноразмерных объектов с применением дифракционных методов, количественному анализу параметров структуры деформируемых никелевых сплавов с применением стандартных образцов состава и структуры, разработке и применение стандартных образцов для оптико-физических методов измерений, а также применению оптико-физических методов измерений для исследований состава новых авиационных материалов.